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BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述:BeNano 180 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀是BeNano 180 + BeNano Zeta的二合一光學檢測系統。該系統中集成了背向動態光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態光散射技術SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-09-05
  • 訪  問  量: 686

詳細介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀是BeNano 180 + BeNano Zeta的二合一光學檢測系統。該系統中集成了背向動態光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態光散射技術SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

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基本性能指標

粒徑測試粒徑范圍0.3nm-10μm
樣品量3μL-1mL
檢測角度173° & 12°
分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN
濃度上限40% w/v
Zeta電位測試技術相位分析光散射
檢測角度12°
Zeta范圍無實際限制
電泳遷移率范圍>±20um.cm/v.s
電導率范圍0-260mS/cm
最小樣品量0.75mL-1.0mL
Zeta測試粒徑范圍2nm-110μm
分子量測試分子量范圍342Da-2×107Da
趨勢測量模式時間和溫度
粘度測試粘度范圍0.01cp-100cp
系統參數溫控范圍-10°C-110°C,精度±0.1°C
激光光源50mW高性能固體激光器,671nm
相關器最多4000通道,107動態線性
檢測器APD,高性能雪崩光電二極管
光強控制0.0001%-100%,手動或自動
取決于樣品和選件


檢測參數

  • 顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

  • 顆粒體系的Zeta電位及其分布

  • 分子量

  • 分布系數PD.I

  • 擴散系數D

  • 流體力學直徑DH

  • 顆粒間相互作用力因子kD

  • 溶液粘度

檢測技術

  • 動態光散射

  • 靜態光散射

  • 電泳光散射

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